Servei de Caracterització de Materials i Microscòpia Electrònica (SCM-SEM) de UIC Barcelona

Servei

Des del seu naixement el 1997, un dels objectius fonamentals de la Universitat Internacional de Catalunya és la realització i l’impuls de la recerca. Des de llavors, UIC Barcelona ha dut a terme el pla en recerca i transferència de coneixement que li ha permès situar-se en un entorn competitiu i que en poc temps ha multiplicat la quantitat de projectes competitius, amb empreses, càtedres, aules de recerca, convenis i serveis.

Recentment, s’han adquirit dos nous equipaments: un microscopi electrònic de rastreig amb microanàlisi de raigs X i una màquina d’assajos mecànics servohidràulica que permet caracteritzar les propietats mecàniques estàtiques i cícliques de diferents materials.

En aquest context, UIC Barcelona ha posat en marxa el Servei de Caracterització de Materials i Microscòpia Electrònica (en endavant SCM-SEM o SEM) com una necessitat per donar suport a la recerca, la innovació, la transferència de coneixement i la docència a UIC Barcelona.

 Equipament

Actualment, l’equipament disponible al SCM-SEM és el següent:

1. Microscopi electrònic de rastreig JEOL JSM5410 equipat amb microanàlisi d’energia de raigs X per a detecció d’elements químics.
   
   El microscopi electrònic de rastreig JSM-5410 es pot utilitzar per a l’observació de diferents tipus de mostres entre les quals s’inclouen metàl·liques, ceràmiques i polimèriques. Tanmateix, es poden estudiar tan mostres massisses com en forma de partícules. Totes les operacions, inclosa l’evacuació per buit, l’observació d’imatges i l’enfoc s’han automatitzat. A més a més, l’adquisició d’imatges fixes processades digitalment fa que el JSM-5410 sigui un equip d’adequada operativitat.
   
   El JSM-5410 disposa d’un detector d’energia dispersiva de raigs X (EDS) Oxford acoblat a la càmera del microscopi. El JSM-5410LV + EDS és un microscopi electrònic de rastreig multipropòsit d’alt rendiment capaç d’estendre la seva utilitat des de l’observació morfològica fins a l’anàlisi de composició elemental.
    
2. Sistema d’sputtering per fer conductores les mostres
   
   L’equip de recobriment per sputtering AGAR B7340 està dissenyat per dipositar capes d‘or a la superfície de les mostres per prevenir efectes de càrrega quan són observades al microscopi electrònic de rastreig. Utilitza una configuració de targeta de polvorització catòdica de magnetró pla per proporcionar un recobriment eficient d‘alta velocitat amb un escalfament mínim de la mostra.
    
3. Màquina ZwickRoell d’assaigs mecànics d’alta precisió servohidràulica que permet fer assaigs mecànics estàtics i cíclics de fatiga per a la caracterització de materials.
    
4. Mordaces per fer els diferents assaigs mecànics.

L’SME es pot reservar enviant un correu electrònic a José Ángel Delgado: jadelgado@uic.es, responsable del servei i qui s'ocupa de la manipulació de l'equip.

Un cop s’hagi contactat amb el Dr. José Ángel Delgado, s’enviarà un formulari que servirà per planificar la sessió de SME.