Descripción
El microscopio electrónico de barrido JSM-5410 presenta, entre sus características más destacadas, una elevada resolución y una gran profundidad de campo, lo que permite la obtención de imágenes de gran magnificación. Se puede utilizar para la observación de diferentes tipos de muestras entre las que se incluyen metálicas, cerámicas y poliméricas. Así mismo, se pueden estudiar tanto muestras macizas como en forma de partículas. Todas las operaciones, incluida la evacuación por vacío, la observación de imágenes y el enfoque se han automatizado. Además, la adquisición de imágenes fijas procesadas digitalmente convierte al JSM-5410 en un equipo de adecuada operatividad.
Otra característica del JSM-5410 es que cuenta con detector de energía dispersiva de rayos X (EDS) Oxford acoplado a la cámara del microscopio. El JSM-5410LV + EDS es un microscopio electrónico de barrido multipropósito de alto rendimiento capaz de extender su utilidad desde la observación morfológica hasta el análisis de composición elemental.
Especificaciones
Cañón de electrones con una aceleración de voltaje de 10 a 30 kV, ajustable por pasos.
Fuente de electrones con filamento de tungsteno tipo K, polarización automática y alineamiento electrónico del cañón.
Resolución de al menos 5 nm en modo de imagen de electrones secundarios a 30 kV y distancia de trabajo de 8 mm.
Rango de magnificación desde x15 hasta x50.000, dependiendo de las características de las muestras.
Imágenes en modo de electrones secundarios y electrones retrodispersados.
Sistema de lentes con supresión de histéresis. Corriente de sonda con ajuste manual o automático, ajustable de 10-12 a 10-6 A.
Enfoque manual y automático con ajuste grueso y fino. Rastreo automático del foco.